?型(xing)號：電鏡(jing)-FEI Nova nanoSEM450（美國(guo)FEI公司(si)）/能譜-X-Max50（英(ying)國(guo)牛津儀(yi)器公司(si)）/EBSD-Nordlys Max（英(ying)國(guo)牛津儀(yi)器公司(si)）
? 性能指標：電鏡二次電子分辨率：0.8nm（30KV）；加速電壓：0.5kV~30kV；放大倍數：35-900,000倍；能譜分辨率123eV（Mn Ka）。
?主要功能：能做各種固態樣品表面形貌的二次電子像，背散射電子像觀察及圖像處理；配備有X射線能譜儀，可以進行樣品表層的微區（點、線、面）的定性、半定量和定量分析；同時配備EBSD，可以進行取向和取向差異的測量、微織構分析、相鑒定、應變和真實晶粒尺寸的測量。
